Микроскоп отсчетный МОМ
Внешний вид может отличаться от фотографии на сайте.
Наличие
Есть
Условия доставки
Сегодня
Бесплатно, сегодня
Микроскоп отсчетный МОМ предназначен для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.
Увеличение | 20х крат |
Цена давления | 0,01 мм |
Увеличение обьектива | 2х |
Увеличение окуляра | 20х |
Фокусное расстояние | 30 мм |
Наличие подсветки | нет |