Микроскоп металлографический XJL-101А
Микроскоп отраженного света предназначен для исследования поверхности непрозрачных объектов. Имеет большой предметный столик с возможностью перемещения по осям X и Y, вертикальное освещение, план-ахроматические объективы и широкопольные окуляры.
Обеспечивает четкое, высококонтрастное изображение и комплектуется поляризационным устройством. Микроскоп XJL-101А является идеальным для исследовательских работ в области металлографии, минералогии, прецизионного конструирования, электротехники и т.д. Применим для научных исследований и лабораторных работ в учебных заведениях.
Штатив | Эргономический дизайн с удобно низким размещением коаксиального механизма фокусировки. Размер 203х203мм |
Увеличение | 50х-1600х |
Насадка | Компенсационная тринокулярная насадка с анализатором |
Окуляры | WF 10x с диаметром поля зрения 18 мм WF 16x с диаметром поля зрения 11 мм (под заказ) 10х с микрометрической линейкой (под заказ) |
Объективы | Планахроматические 5х, 10х, 20х, 40х, 80х и 50х, 100х под заказ |
Револьверная головка | 5-и позиционная, шарикоподшипниковая с фиксатором для гарантированного центрирования |
Столик | Размер 203х203 мм |
Освещение | Вертикальный осветитель галогенная лампа 6В 20Вт с поляризатором |
